ICS 35.240.50 CCS L 85 中华人民共和国国家标准 GB/T42025—2022 智能制造 射频识别系统 超高频RFID系统性能测试方法 Intelligent manufacturing-Radio frequency identification system- Test methods forUHF RFID systemperformance 2023-05-01实施 2022-10-12发布 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T42025—2022 目 次 前言 1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 4 符号和缩略语 5 般测试要求 5.1 测试项目选择 5.2 标准大气条件 5.3 预处理 5.4 默认允差 5.5 测量不确定度 5.6 识别测试 5.7 读写测试 5.8 通信参数 5.9 标签排列 5.10 长度采样步长 5.11 速度采样步长· 5.12 移动方向 5.13 测试报告 6 读写器抗扰度 6.1 测试目的 6.2 测试布置 6.3 测试步骤 6.4 测试报告 密集型读写器互扰 7 7.1 测试目的 7.2 测试布置 7.3 测试步骤 7.4 测试报告 标签环境适应性 8 10 8.1 测试目的 10 8.2 测试布置 10 8.3 测试步骤 10 8.4 测试报告 10 9 堆垛标签性能 10 9.1 测试目的 10 1 GB/T42025—2022 9.2 测试布置 9.3 测试步骤， 9.4 测试报告 10 典型应用场景下的多标签访问能力 10.1 测试目的 10.2 测试布置 10.3 测试步骤 10.4 测试报告 12 11 典型应用场景下的移动速度 12 11.1 测试目的 12 11.2 测试布置 12 11.3 测试步骤 12 11.4 测试报告 12 附录A（规范性） 典型应用场景 13 附录B（资料性） 测试报告记录信息 17 参考文献 GB/T42025—2022 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任 本文件由全国信息技术标准化技术委员会（SAC/TC28）提出并归口。 本文件起草单位：中国电子技术标准化研究院、北京中科佐迪克电子科技发展有限公司、广东中科 臻恒信息技术有限公司、睿芯联科（北京）电子科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、重庆唯申 科技有限公司、四川华大恒芯科技有限公司、爱康普科技（大连）有限公司、高新兴智联科技有限公司、 上海天臣射频技术有限公司、青岛海尔洗衣机有限公司、品冠物联科技有限公司。 本文件主要起草人：刘文莉、冯敬、王大庆、王立、管超、金学明、王文赫、时汉、陈柯、姚茜、周吉天白、 张建平、冯进、王金龙、周立雄、孟毅、蒋宗清。 GB/T42025—2022 智能制造射频识别系统 超高频RFID系统性能测试方法 1范围 本文件描述了用于智能制造的超高频RFID的系统性能测试的一般方法。 本文件适用于智能制造领域超高频RFID系统性能的测试。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文 本文件。 GB/T17626.2- —2018 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T17626.3—2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T17626.4—2018 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T17626.5—2019 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌（冲击）抗扰度试验 GB/T17626.6—2017 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T17626.8—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验 GB/T17626.11—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度 试验 GB/T29261.3—2012 信息技术 自动识别和数据采集技术词汇第3部分：射频识别 GB/T29768—2013 信息技术 射频识别 800/900MHz空中接口协议 3 术语和定义 GB/T29261.3一2012界定的以及下列术语和定义适用于本文件 3.1 读/写标签效率 read/writetag(s)efficiency 单位时间（s)内成功读/写标签的次数。 3.2 标签识读灵敏度 tag read sensitivity 标签成功完成一系列命令所需的最小载波功率。 3.3 标签反向散射功率tagbackscatterpower 标签处于某一灵敏度水平时，成功完成一系列命令后返回的功率。 4符号和缩略语 下列符号和缩略语适用于本文件。 1 GB/T42025—2022 D：标签儿何中心与读写器天线之间的距离 Da：读写器a天线与标签之间的距离 D：读写器b天线与标签之间的距离 D：读写器天线之间的距离 RFID：射频识别（RadioFrequencyIdentification） UID：用户标签标识符（UserTagIdentifier） 一般测试要求 5.1测试项目选择 本文件包含的测试项目分为实验室环境下的基础性能测试以及现场环境下的应用性能测试两 大类。 基础性能测试采用测试仪器对标签或读写器进行测试，得出标签或读写器的性能参数，具体包含以 下测试项目： 读写器抗扰度； 一标签环境适应性； 堆垛标签性能 应用性能测试采用标签和读写器进行互测，得出整体系统的性能参数，具体包含以下测试项目： 密集读写器互扰； 堆垛标签性能； 一典型应用场景下的多标签访问能力； 典型应用场景下的移动速度 5.2 2标准大气条件 除非另有规定，应在下列标准大气条件下进行测试： a) 温度：15℃~35℃； b) 相对湿度：25%~75%； c) 大气压：86kPa~106kPa。 5.3 3预处理 测试对象应在测试环境中存放24h后再进行测试 5.4 默认允差 除非另有规定，所给出量值的默认允差为土5%。 5.5 5测量不确定度 应对测量结果进行不确定度分析。 5.6 识别测试 测试过程中以读写器获取标签UID为准。 7读写测试 5.7 测试数据采用0xAA和0x55分别进行。除非另有要求，读写操作对标签用户区第一个地址和最后 一个地址进行。如对其他存储地址进行测试，应在测试记录中注明。测量时标签宜粘接于与其匹配的 2 GB/T42025—2022 介质材料上，且在测试记录中注明介质材料。若测量时将标签置于周围分布有干扰物体的环境下，在测 试记录中应注明干扰物体的位置，排列等 5.8通信参数 测试过程中应依据GB/T29768一2013对测试对象的通信参数进行配置。 5.9标签排列 当采用两个以上的标签进行测试时，这组标签构成标签群。标签群的几何排列可以是一维、二维和 三维，分别见图1、图2和图3。在规定的几何排列中标签的间距应是一致的。标签的间距应是相邻标 签几何中心之间的距离。 。标签的最小间距应不小于标签天线长度最大值的2倍。 图1 一维标签排列 图2二维标签排列 图3三维标签排列 GB/T42025—2022 5.10 长度采样步长 距离和范围测试应对系统的识别过程、读数据过程和写数据过程分别进行。为了控制采样点的数 量，缩短测试时间，可对不同的系统选取合适的采样步长，参考数值见表1。 表1 采样步长 标签与读写器天线之间的距离（D） 参考步长值 D≤5cm 1.0cm 1.0 cm 5cm<D<20cm 5.0cm 20cm<D<1m 20.0cm 1 m<D≤10m D>10m 1.0 m 5.11 速度采样步长 移动速度测试应对系统的识别过程、读数据过程和写数据过程分别进行。为了控制采样点的数量， 缩短测试时间，可对不同的系统选取合适的速度初始值和速度步长值，参考数值见表2。 表2 速度初始值和步长值 速度初始值（建议） 参考速度步长值 0.1 m/s 0.1m/s 5.12 移动方向 标签几何中心的原始位置与读写器天线的相对运动方向定义如图4所示，本文件采用X、Y、Z三 个方向作为特征测试方向。对于实际应用场景中的不规则方向，可根据应用需要采用合适的运动方向。 防向率 标签儿何小心的 原始位置 读写器 X方向 图4 标签移动方向示意图 5.13 测试报告 测试报告应至少包括如下信息： 4 GB/T42025-—2022 a) 测试环境：测试地点、温度、湿度、大气压等； b) 标签：标签UID等； c） 读写器：读写器型号、天线特性、通信协议等； (P 测试结果：测试数值； e) 附加说明：标签数量、标签群排列形式、标签方向和贴附材料等 6读写器抗扰度 6.1测试自的 本测试规定了在工业环境中的连续、暂态、传导和辐射骚扰以及包括静电放电情况下工作的读写器 的抗扰度试验要求。 6.2 2测试布置 受试设备（EUT）应在符合正常使用的最敏感的工作方式下进行试验。应变动受试设备的布置以 获得与典型使用和实际装置一致的最大敏感度。 如果设备是系统的一部分，或者可以连接辅助设备，那么设备在进行试验时应连接数量最少且有代 表性的辅助设备 如果制造商的技术规范特别要求外部保护装置或措施，并已在用户使用手册中明确做出规定，则应 在具有外部保护装置或措施的情况下进行试验。 试验期间的布置和工况都应准确地记录在试验报告中。对设备的每一项功能未必都能进行试验 在这种情况下，要选择最关键的工况来试验。 如果设备有许多类似的端口，或许多端